日本レーザー

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独自の非接触光学技術を採用し、最大31層の多層膜を同時に、かつ±0.1μmの高精度で測定できる日本レーザーの厚み計。硬質材料から軟質材料まで、対象物に損傷や変形を与えずに測定できるのが大きな特徴です。
この記事では、日本レーザーが取り扱う非接触厚さ計の主なラインナップ、サポート体制、会社情報について紹介しています。

日本レーザー 157/137シリーズ
引用元:日本レーザー公式HP
(https://www.japanlaser.co.jp/product/bristol-instruments-optical-thickness-gauge_157-137-series/)

日本レーザーの主な非接触厚さ計

高精度・多層膜・非接触 厚み計 157/137シリーズ

157/137シリーズ製品イメージ
引用元:日本レーザー公式HP
(https://www.japanlaser.co.jp/product/bristol-instruments-optical-thickness-gauge_157-137-series/)

Bristol Instruments社の実績ある光学技術を採用し、最大31層の厚みを同時に測定可能な高精度モデルです。

高精度 ±0.1 μmを実現しており、12μmから最大80mmまでの広い厚み測定範囲に対応しています。非破壊・非接触での計測が可能なため、樹脂シート、PETフィルム、ウエハ、ガラス基板、レンズといった、損傷や変形が許されない硬質・軟質な透明材料の測定に最適です。最大±0.02 μmの長期測定再現性を誇り、品質管理の厳格な製造現場でも安定したパフォーマンスを発揮します。

また、USBまたはEthernet経由のAPI連携に対応しており、インライン測定として製造プロセスへの組み込みも可能です。

種類 非接触光学式(白色干渉計)
測定対象物 樹脂シート、PETフィルム、ウエハ、ガラス基板、レンズ、コンタクトレンズ、医療用カテーテルなど
測定範囲 12μm ~ 80mm
測定精度 ±0.1μm
用途 R&D、製造向け多層膜測定、インライン品質管理
価格 公式HPに記載なし
製品サイズ 89 mm x 432 mm x 381 mm
日本レーザーの
非接触厚さ計は多層膜や
透明材の精密測定に強い
ハイエンドモデル

独自の非接触光学式を採用し、他方式では困難な最大31層の同時測定を±0.1μmの超高精度で実現します。
デモ機の貸出やサンプル測定にも対応しており、実際の対象物での精度を確認してから安心して導入できる体制が整っています。

非接触厚さ計といっても、計測対象や求める精度によって適した方式は異なります。導入成果の最大化には、使用環境に合った製品選びが重要です。
このサイトでは、「連続生産されるシート材を安定して測定したい」「材質ごとの反射率に左右されず測定したい」「多層構造の膜厚を正確に評価したい」といった計測の対象と目的に応じて選べる非接触厚さ計3選を紹介しています。
特徴や対応方式を比較しながら、自社に合ったモデル選びのヒントとしてご活用ください。

日本レーザーのサポート体制

日本レーザーでは、導入前の検討段階を重視しており、デモ機の貸し出しや実際のサンプルを用いたサンプル測定に対応しています。導入前に自社の対象物が期待通りの精度で計測できるかを事前に検証できるため、導入後のミスマッチを防ぐことが可能です。

また、1968年創業のレーザーと光の専門商社として蓄積された高度な技術知見を活かし、見積もりやサンプル測定の相談から、技術的な仕様の検討まで幅広く対応しています。NIST(アメリカ国立標準技術研究所)規格にトレーサブルなゲージブロックでの検証も行っており、信頼性の高い測定環境の構築を支援します。

日本レーザーの非接触厚さ計(膜厚計)導入事例

日本レーザーの公式サイト内では、具体的な企業名や数値を伴う詳細な導入事例の記載はありませんでした。しかし、製品の応用例として「OLED・LCDディスプレイの多層測定」や「医療用バルーンカテーテルの壁厚管理」など、高度な技術が要求される分野での実績が豊富であることが示されています。実際の運用イメージについては、サンプル測定を通じて個別に確認することをおすすめします。

日本レーザーの会社情報

会社名 株式会社 日本レーザー
本社所在地 東京都新宿区西早稲田2-14-1
電話番号 03-5285-0861
URL https://www.japanlaser.co.jp/
【計測対象別】
非接触厚さ計3選

非接触厚さ計は、計測対象となる材料や厚み・範囲、用途に合ったタイプを選ぶことが大切です。
ここでは、計測対象別に適した非接触厚さ計3製品を
紹介していきます。

連続生産ラインの
薄物シート材なら
『SX-1100』
ナノグレイ
  • 放射線式

    X線やβ線を素材に照射し、透過した放射線量から厚さを算出。
    振動や素材の色に影響されず、安定した非接触測定が可能。

    【こんな用途におすすめ】

    材質が透明・半透明(フィルム、ガラス)、黒色・光沢のあるものを計測したい。
    高速搬送や振動がある連続ラインで、薄物シートのリアルタイム監視を行いたい。

    放射線式
放射線式
揺れ・素材に強い
汎用型モデル
  • 物質を透過し測定するX線式を採用しているため、黒色材、散乱体など素材を選ばず「透過測定」が可能
  • 高感度・高速応答の放射線検出方法「シンチレーション検出器」採用で、金属箔など薄物の搬送系での精度±0.1μmを実現
搬送で揺れのない
厚物シート材なら
『thicknessGAUGE C.LL』
Micro-EpsilonJapan
  • レーザー式

    上下のレーザー変位センサで表面距離を測定し、その差から厚さを算出。
    非接触でμm単位の高精度測定が可能。

    【こんな用途におすすめ】

    金属・薄いプラスチックで放射線を避けたい。
    静止または揺れの少ない搬送環境で正確に測りたい。

    レーザー式
レーザー式
剛体向け
高精度モデル
  • 揺れのない対象物に精度の高い計測ができる「三角測量方式」を採用し、システム
    精度±1/±5μmを実現
  • 金属・木材・プラスチックなど、一般的な工業材料に対応し、材質ごとの反射率の違いに左右されにくい安定した測定ができる
化学組成の異なる
多層フィルムなら
『赤外線極薄厚さ計IRMT01』
チノー
  • 赤外線式

    素材が特定波長の赤外線を吸収する性質を利用し、層ごとの厚みを測定。
    多層フィルムの非破壊・非接触測定に向いている。

    【こんな用途におすすめ】

    コーティング膜や電池電極など多層を見分けたい。
    極薄膜をリアルタイムでモニタリングしたい。

    赤外線式
赤外線式
薄膜対応の
層別測定特化モデル
  • 表面反射を除去して精度を高める「P偏光正反射方式」により、異なる化学組成の層を識別しやすい
  • 10µm以下の極薄膜に対応し、28msの高速更新周期でインライン厚み管理が可能。リアルタイムに変化を把握でき、工程調整や不良発生を抑制