ピクリング

目次
全て表示

ピクリングは、神奈川県横浜市に本社を置くメーカーです。半導体業界や関連分野向けの自動化装置・検査装置の開発・製造を手がけており、顧客のニーズに応じたカスタマイズ対応を行っています。その中で、非接触による厚さ測定機も提供しています。

本記事では、ピクリングが提供する厚さ測定機(レーザセンサ/エアーセンサ)の特徴や主な仕様、用途について解説します。

ピクリング 厚さ計 イメージ
引用元:ピクリング公式HP
(http://picring.co.jp/)

ピクリングの主な非接触厚さ計

厚さ測定機(レーザセンサ/エアーセンサ)

厚さ測定機(レーザセンサ/エアーセンサ)
引用元:ピクリング公式HP
(http://picring.co.jp/business-products.php?pid=1)

厚さ測定機(レーザセンサ/エアーセンサ)は、エアーセンサとレーザセンサという2種類の厚みセンサを搭載した装置で、いずれも非接触方式で厚みを測定します。エアーセンサはφ0.2mm、レーザセンサはφ60μmの仕様となっており、厚さ限度はそれぞれ10mmと2.5mmです。

また、半導体ウェハの厚みや反りの測定にも対応しており、オリフラ合わせユニットを搭載することで、1回のスキャンでウェハの位置合わせから厚み計測までを完了できる点が特徴。測定結果はデータとして出力・分析することが可能です。

種類非接触厚さ測定機(レーザセンサ/エアーセンサ)
測定対象物半導体ウェハなど
厚さ範囲エアーセンサ φ0.2mm、レーザセンサ φ60μm
(測定可能な厚さの上限:エアー10mm、レーザ2.5mm)
測定精度参照ページ内に記載なし
用途半導体ウェハの厚み・反り測定
価格参照ページ内に記載なし
製品サイズ参照ページ内に記載なし
ピクリングの
厚さ測定機はレーザとエアーを使い分けられる高効率モデル

ピクリングの「厚さ測定機(レーザセンサ/エアーセンサ)」は、レーザセンサとエアーセンサを使い分けられる非接触厚さ測定機です。半導体ウェハの厚みや反りを測定でき、オリフラ合わせユニットによって1回のスキャンで位置合わせから厚み計測まで完了できる効率性も備えています。

非接触厚さ計といっても、計測対象や求める精度によって適した方式は異なります。導入成果の最大化には、使用環境に合った製品選びが重要です。
このサイトでは、「連続生産されるシート材を安定して測定したい」「材質ごとの反射率に左右されず測定したい」「多層構造の膜厚を正確に評価したい」といった計測の対象と目的に応じて選べる非接触厚さ計3選を紹介しています。
特徴や対応方式を比較しながら、自社に合ったモデル選びのヒントとしてご活用ください。

ピクリングの非接触厚さ計(膜厚計)導入事例

公式サイトに具体的な導入事例の掲載はありませんでした。

ピクリングの情報

会社名株式会社ピクリング
本社所在地神奈川県横浜市港北区新羽町925
電話番号045-633-7377
公式HPhttp://picring.co.jp/
【計測対象別】
非接触厚さ計3選

非接触厚さ計は、計測対象となる材料や厚み・範囲、用途に合ったタイプを選ぶことが大切です。
ここでは、計測対象別に適した非接触厚さ計3製品を
紹介していきます。

連続生産ラインの
薄物シート材なら
『SX-1100』
ナノグレイ
  • 放射線式

    X線やβ線を素材に照射し、透過した放射線量から厚さを算出。
    振動や素材の色に影響されず、安定した非接触測定が可能。

    【こんな用途におすすめ】

    材質が透明・半透明(フィルム、ガラス)、黒色・光沢のあるものを計測したい。
    高速搬送や振動がある連続ラインで、薄物シートのリアルタイム監視を行いたい。

    放射線式
放射線式
揺れ・素材に強い
汎用型モデル
  • 物質を透過し測定するX線式を採用しているため、黒色材、散乱体など素材を選ばず「透過測定」が可能
  • 高感度・高速応答の放射線検出方法「シンチレーション検出器」採用で、金属箔など薄物の搬送系での精度±0.1μmを実現
搬送で揺れのない
厚物シート材なら
『thicknessGAUGE C.LL』
Micro-EpsilonJapan
  • レーザー式

    上下のレーザー変位センサで表面距離を測定し、その差から厚さを算出。
    非接触でμm単位の高精度測定が可能。

    【こんな用途におすすめ】

    金属・薄いプラスチックで放射線を避けたい。
    静止または揺れの少ない搬送環境で正確に測りたい。

    レーザー式
レーザー式
剛体向け
高精度モデル
  • 揺れのない対象物に精度の高い計測ができる「三角測量方式」を採用し、システム
    精度±1/±5μmを実現
  • 金属・木材・プラスチックなど、一般的な工業材料に対応し、材質ごとの反射率の違いに左右されにくい安定した測定ができる
化学組成の異なる
多層フィルムなら
『赤外線極薄厚さ計IRMT01』
チノー
  • 赤外線式

    素材が特定波長の赤外線を吸収する性質を利用し、層ごとの厚みを測定。
    多層フィルムの非破壊・非接触測定に向いている。

    【こんな用途におすすめ】

    コーティング膜や電池電極など多層を見分けたい。
    極薄膜をリアルタイムでモニタリングしたい。

    赤外線式
赤外線式
薄膜対応の
層別測定特化モデル
  • 表面反射を除去して精度を高める「P偏光正反射方式」により、異なる化学組成の層を識別しやすい
  • 10µm以下の極薄膜に対応し、28msの高速更新周期でインライン厚み管理が可能。リアルタイムに変化を把握でき、工程調整や不良発生を抑制