ポケットデザイン

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ポケットデザインは、長野県諏訪市に拠点を置く測定機・検査機の設計製作メーカーです。測定機の設計から加工、組立、調整までを社内一貫体制で行っており、要求仕様に応じたオーダーメイドの非接触厚さ計を提供しています。

本記事では、ポケットデザインが手がける非接触厚さ計「非接触ウェハ厚み測定機」の特長や主な仕様、用途について解説します。

ポケットデザイン 厚さ計 イメージ
引用元:ポケットデザイン公式HP
(https://www.pocket-design.jp/index.html)

ポケットデザインの主な非接触厚さ計

非接触ウェハ厚み測定機

ポケットデザイン-非接触厚み測定器
引用元:ポケットデザイン公式HP
(https://www.pocket-design.jp/index.html)

非接触ウェハ厚み測定機は、キーエンス製の分光干渉計「SI-F10」シリーズを2本使用し、φ150サイズのシリコンウェハの厚みを非接触で測定する装置です。上下からセンサを配置する構造により、ウェハ単体の厚みとウェハに貼付されたテープの厚みを同時に測定できる点が特徴です。

モーター2軸によるシーケンス制御で自動搬送と測定を行い、繰返し測定精度はウェハ単体で±0.3ミクロン以下、テープ厚みで±1ミクロン以下を実現しています。装置サイズは巾350×高さ600×奥行500mmです。

種類非接触厚み測定機
測定対象物シリコンウェハ(φ150サイズ)、ウェハ貼付テープ
対応サイズφ150サイズウェハに対応
測定精度繰返し測定精度 ウェハ単体±0.3ミクロン以下、テープ厚み±1ミクロン以下
用途半導体ウェハの厚み測定、ウェハとテープの厚み同時測定、ウェハ加工・検査工程
価格公式サイトに記載なし
製品サイズ巾350×高さ600×奥行500mm
ポケットデザインの
非接触厚さ計はオーダーメイド対応でウェハとテープを同時測定

ポケットデザインの「非接触ウェハ厚み測定機」は、既製品ではなく測定対象物や現場の要求仕様に合わせて設計できるオーダーメイド型の非接触厚さ計です。分光干渉式センサを2本使用し、ウェハとテープの厚みを同時に高精度測定できる点が強みで、半導体製造ラインの品質管理工程などに適しています。

非接触厚さ計といっても、計測対象や求める精度によって適した方式は異なります。導入成果の最大化には、使用環境に合った製品選びが重要です。
このサイトでは、「連続生産されるシート材を安定して測定したい」「材質ごとの反射率に左右されず測定したい」「多層構造の膜厚を正確に評価したい」といった計測の対象と目的に応じて選べる非接触厚さ計3選を紹介しています。
特徴や対応方式を比較しながら、自社に合ったモデル選びのヒントとしてご活用ください。

ポケットデザインの非接触厚さ計(ウェハ厚み測定機)導入事例

公式サイトに具体的な導入事例の掲載はありませんでした。

ポケットデザインの情報

会社名株式会社ポケットデザイン
本社所在地長野県諏訪市南町1-1 長野PRビル1F
電話番号0266-78-8920
公式HPhttps://www.pocket-design.jp/
【計測対象別】
非接触厚さ計3選

非接触厚さ計は、計測対象となる材料や厚み・範囲、用途に合ったタイプを選ぶことが大切です。
ここでは、計測対象別に適した非接触厚さ計3製品を
紹介していきます。

連続生産ラインの
薄物シート材なら
『SX-1100』
ナノグレイ
  • 放射線式

    X線やβ線を素材に照射し、透過した放射線量から厚さを算出。
    振動や素材の色に影響されず、安定した非接触測定が可能。

    【こんな用途におすすめ】

    材質が透明・半透明(フィルム、ガラス)、黒色・光沢のあるものを計測したい。
    高速搬送や振動がある連続ラインで、薄物シートのリアルタイム監視を行いたい。

    放射線式
放射線式
揺れ・素材に強い
汎用型モデル
  • 物質を透過し測定するX線式を採用しているため、黒色材、散乱体など素材を選ばず「透過測定」が可能
  • 高感度・高速応答の放射線検出方法「シンチレーション検出器」採用で、金属箔など薄物の搬送系での精度±0.1μmを実現
搬送で揺れのない
厚物シート材なら
『thicknessGAUGE C.LL』
Micro-EpsilonJapan
  • レーザー式

    上下のレーザー変位センサで表面距離を測定し、その差から厚さを算出。
    非接触でμm単位の高精度測定が可能。

    【こんな用途におすすめ】

    金属・薄いプラスチックで放射線を避けたい。
    静止または揺れの少ない搬送環境で正確に測りたい。

    レーザー式
レーザー式
剛体向け
高精度モデル
  • 揺れのない対象物に精度の高い計測ができる「三角測量方式」を採用し、システム
    精度±1/±5μmを実現
  • 金属・木材・プラスチックなど、一般的な工業材料に対応し、材質ごとの反射率の違いに左右されにくい安定した測定ができる
化学組成の異なる
多層フィルムなら
『赤外線極薄厚さ計IRMT01』
チノー
  • 赤外線式

    素材が特定波長の赤外線を吸収する性質を利用し、層ごとの厚みを測定。
    多層フィルムの非破壊・非接触測定に向いている。

    【こんな用途におすすめ】

    コーティング膜や電池電極など多層を見分けたい。
    極薄膜をリアルタイムでモニタリングしたい。

    赤外線式
赤外線式
薄膜対応の
層別測定特化モデル
  • 表面反射を除去して精度を高める「P偏光正反射方式」により、異なる化学組成の層を識別しやすい
  • 10µm以下の極薄膜に対応し、28msの高速更新周期でインライン厚み管理が可能。リアルタイムに変化を把握でき、工程調整や不良発生を抑制